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“半导体” 清除

中国赛宝（宁波）实验室浙江省

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外壳（半导体）的检测

检测类别:外壳（半导体）

检测项:绝缘电阻

检测方法:半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011

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工业和信息化部电子第五研究所华东分所江苏省

LV 3

外壳（半导体）的检测

检测类别:外壳（半导体）

检测项:绝缘电阻

检测方法:半导体集成电路外壳通用规范 GJB1420B-2011

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广电计量检测（重庆）有限公司重庆市

LV 3

半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:稳态工作寿命

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1026；1027

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广电计量检测（湖南）有限公司湖南省

LV 3

半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:高温寿命

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1031,1032,1036

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中国赛宝（宁波）实验室浙江省

LV 3

半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:振动

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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工业和信息化部电子第五研究所华东分所江苏省

LV 3

半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:低气压

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1001

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广电计量检测（北京）有限公司北京市

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半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:耐湿

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 1021

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广电计量检测（西安）有限公司陕西省

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半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:低气压

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1001

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广电计量检测（深圳）有限公司广东省

LV 3

半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:稳态工作寿命

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法 1026

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广电计量检测（广州）有限公司广东省

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半导体分立器件的检测

检测类别:半导体分立器件

检测项:高温寿命

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1031,1032,1036

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中国赛宝（宁波）实验室浙江省

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半导体集成电路的检测

检测类别:半导体集成电路

检测项:外部目检

检测方法:半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 表4 C组 C3

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上海欣项电子科技有限公司上海市

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半导体制造设备的检测

检测类别:半导体制造设备

检测项:耐电压

检测方法:机械的安全机械的电气设备第33部分:半导体制造设备的要求 BS EN 60204-33:2011, IEC 60204-33:2009 18.4

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工业和信息化部电子第五研究所华东分所江苏省

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半导体集成电路的检测

检测类别:半导体集成电路

检测项:外部目检

检测方法:半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 表4 C组 C3

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苏州博飞克分析技术服务有限公司江苏省

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金属及其合金材料/半导体及非导体材料的检测

检测类别:金属及其合金材料/半导体及非导体材料

检测项:金属及其合金材料/半导体及非导体材料中氧/氮

检测方法:海绵钛/钛及钛合金化学分析方法氧量/氮量的测定 GB/T 4698.7-2011

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广电计量检测（广州）有限公司广东省

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*半导体管特性图示仪的检测

检测类别:*半导体管特性图示仪

检测项:X轴基极电压

检测方法:半导体管特性图示仪校准规范 JJF 1236

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广电计量检测（深圳）有限公司广东省

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*半导体管特性图示仪的检测

检测类别:*半导体管特性图示仪

检测项:Y轴集电极电流

检测方法:半导体管特性图示仪校准规范 JJF 1236

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广州亚弘检测技术有限公司广东省

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半导体器件保护用熔断体的检测

检测类别:半导体器件保护用熔断体

检测项:全部参数

检测方法:低压熔断器第4部分半导体器件保护用熔断体的补充要求 GB/T 13539.4-2016,IEC 60269-4:2009+A1:2012+A2:2016,EN 60269-4:2009+A1:2012+A2:2016

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中国赛宝（宁波）实验室浙江省

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半导体分立器件寿命评价试验的检测

检测类别:半导体分立器件寿命评价试验

检测项:稳态寿命试验

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 方法1026 1027

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工业和信息化部电子第五研究所华东分所江苏省

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半导体分立器件寿命评价试验的检测

检测类别:半导体分立器件寿命评价试验

检测项:老炼试验

检测方法:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039、1040

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上海欣项电子科技有限公司上海市

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通用工业和半导体设备的检测

检测类别:通用工业和半导体设备

检测项:电压跌落抗扰度

检测方法:工业用电骤升/骤降发生器规则 SEMI F47-0706

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外壳（半导体）的检测

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半导体分立器件的检测

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*半导体管特性图示仪的检测

*半导体管特性图示仪的检测

半导体器件保护用熔断体的检测

半导体分立器件寿命评价试验的检测

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