主要参数

STEM HAADF分辨率：0.063nm@300kV；0.110nm@80kV

极靴： 超大极靴型WGP（间距6mm）

TEM点分辨率： 0.22nm (±0.01nm)@300kV；0.41nm (±0.03nm)@80kV)

TEM晶格分辨率： ≤0.06nm @ 300kV FFT Spot

电子枪： 冷场

电子枪真空度： 10-9Pa

样品室真空度： 10-5Pa

衍射角 (2a)： 1.5 to 100 mrad or more

取出角： ±10°

放大倍数 ：

MAG ：´2,000 to ´1.200,000

LOWMAG ：´60 to ´40,000

SAMAG ：´8,000 to ´600,000

选区衍射： 8 to 200 cm

CMOS相机： Gatan Oneview

服务内容

1.设备简介：

JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

2.设备功能

JEM-ARM300F标配日本电子的12极球差校正器、高亮度冷场发射电子枪，TEM的保证分辨率为0.05nm, STEM HAADF的保证分辨率为0.063nm

3.附件

（1）EDS:高灵敏无窗SDD双探头；探测面积≥100mm2*2　　

（2）Gatan公司一体化CMOS相机及成像系统（OneView）

（3）Hysitron PI95

（4）Gatan公司EELS（分辨率：0.1eV at zero loss）