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JEM-ARM300F 球差校正透射电镜

仪器品牌: 日本电子 仪器型号: JEM-ARM300F
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所属单位: 河北工业大学先进材料测试与分析中心
所在位置: 天津 天津 北辰 西平道5340号河北工业大学材料科学与工程学院楼
距离位置: 12302.4km
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发布需求

主要参数

STEM HAADF分辨率:0.063nm@300kV;0.110nm@80kV

极靴: 超大极靴型WGP(间距6mm)

TEM点分辨率: 0.22nm (±0.01nm)@300kV;0.41nm (±0.03nm)@80kV)

TEM晶格分辨率: ≤0.06nm @ 300kV FFT Spot

电子枪: 冷场

电子枪真空度: 10-9Pa

样品室真空度: 10-5Pa

衍射角 (2a): 1.5 to 100 mrad or more

取出角: ±10°

放大倍数

MAG :´2,000 to ´1.200,000

LOWMAG :´60 to ´40,000

SAMAG :´8,000 to ´600,000

选区衍射: 8 to 200 cm

CMOS相机: Gatan Oneview


服务内容

1.设备简介:


JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。


2.设备功能


JEM-ARM300F标配日本电子的12极球差校正器、高亮度冷场发射电子枪,TEM的保证分辨率为0.05nm, STEM HAADF的保证分辨率为0.063nm


3.附件


(1)EDS:高灵敏无窗SDD双探头;探测面积≥100mm2*2  

(2)Gatan公司一体化CMOS相机及成像系统(OneView)

(3)Hysitron PI95

(4)Gatan公司EELS(分辨率:0.1eV at zero loss)