仪器名称:高加速寿命试验箱
机构编号:无
仪器型号:PC-422R8 Bias Model
仪器品牌:HIRAYAMA(日本平山)
仪器地址:无
仪器标签:无
用于器件HAST及PCT试验,通过对器件施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料或外部保护材料和金属的交接面,评价非气密封装半导体器件在潮湿环境下的可靠性。

所属机构:北京世纪金光半导体有限公司
机构所在地:北京市
检测领域:半导体
检测资质:CNAS
联系方式:400-000-2336 转 6121

收费方式: 项目计费

参照标准:无