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高分辨透射电子显微镜

仪器品牌: JEOL,FEI 仪器型号: 2100F,Talos F200
测试价格: ¥120元/样 起 浏览
140+
服务模式:
委托测试
使用方式:
预约项目:
测试项目:
形貌+高分辨(磁性样品) 形貌+高分辨(非磁性样品) 选区衍射(SEAD) 能谱点扫(Eds) 能谱线扫(Line) 能谱面扫(Mapping) FIB+TEM观察 球差STEM观察
预约时间:
北京重元永新科技有限公司
北京重元永新科技有限公司
已认证
距离:12231.1km
电话:400-708-8858 转 8001

主要参数

加速电压:20kV~200kV,连续可调; TEM点分辨率:0.25nm;TEM信息分辨率0.12 nm;STEM分辨率: 0.16 nm STEM模式可采集包括明场 (BF),环形明场(ABF),环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)四种来自不同角度电子信号的图像; 高亮电子枪,探针电流50nA; 五轴(x, y, z, a, b)优中心超高精度自动压电陶瓷样品台,最大倾斜角度:± 70° 四探头无窗高分辨率能谱仪(EDS)系统,有效探测器面积120mm2,能量分辨率≤136eV,元素分析范围: B5-Am95; 洛伦兹透镜

主要功能

透射电子显微镜在材料科学,生命科学,化学,物理学,金属材料等领域有着不可获取的重大作用,其可获得金属、矿物、半导体、高分子、陶瓷、复合材料、纳米等材料微观组织形貌、高分辨晶体结构,微观组织等,对于研究材料微观结构,探索材料机理举足轻重

服务内容

1. 获得纳米材料,金属材料,陶瓷材料的微观形貌,孔隙情况,样品颗粒大小等;

2. 获得材料的高分辨数据,晶格条纹,获取晶体学参数;

3. 获得材料衍射花纹,判断材料晶体学参数;

4. 得到材料EDS信号,表征材料元素分布,半定量分析材料元素含量等,可进行面扫,点扫,线扫等方式;

5. 具有STEM模式可采集包括明场 (BF),环形明场(ABF),环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)四种来自不同角度电子信号的图像;

样品要求

1. 样品无磁性,不含铁钴镍元素;2. 粉末样品超声处理滴至铜网或者微珊,金属、陶瓷灯样品通过双喷,减薄等前处理手段处理到100nm以下薄区;

预约机时规则
最少预约时长 1
预约时长梯度 0.5
须提前预约时间 0.0/
允许预约时间范围 0.0/
¥120元/样