仪器名称:电子探针显微分析仪
机构编号:无
仪器型号:JXA8230
仪器品牌:日本电子(JEOL)
仪器地址:无
仪器标签:无
仪器配置: 1、配备4道波谱仪(WDS),八块分光测试晶体(含两块分析轻元素晶体),元素测试范围:5B92U。 2、配备阴极发光(CL)系统。非抛光型的检测器(PCL)可用于矿物的筛选,如锆石阴极发光照相。 3、配备牛津科技INCAx-act350型能谱仪(EDS)。 仪器特点: 1、纳米级的电子细束,实现了真正的微区(微米级)、无损分析。 2、高性能扫描电镜(SEM)功能,保证了二次电子分辨率小于6nm。 3、WDS/EDS组合使用,丰富了分光谱仪种类,强大了分析功能。微区元素定量、定性分析及形貌观察,元素分布的线扫描和面扫描,分析准确度高。设定位置、参数后,可实现自动、无人盯防分析。 应用范围:地质学、岩石学、矿物学、材料学、冶金学、固体物理学、医学、文物珠宝鉴定等。

所属机构:中国冶金地质总局山东局测试中心
机构所在地:山东省
检测领域:冶金,环境
检测资质:CMA
联系方式:400-000-2336 转 8001

收费方式: 项目计费

参照标准:无