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聚焦离子束场发射扫描电镜

扫描电镜SEM
EBSD
FIB
仪器品牌: Zeiss Auriga 仪器型号: Zeiss Auriga
测试价格: ¥240元/样 起 浏览
129+
服务模式:
委托测试
使用方式:
预约项目:
测试项目:
喷碳 喷金 形貌观察 EBSD FIB
预约时间:
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北京科大分析检验中心有限公司
北京科大分析检验中心有限公司
地点:北京市 北京市 东城区
距离:12217.8km
电话:400-708-8858 转 6001

主要参数

SEM分辨率Resolution: 1.0nm @ 15kV 1.9nm @ 1kV 放大倍数Mag.:12 ~ 1000,000x 加速电压EHT:0.1 ~ 30kV FIB分辨率Resolution: 2.5nm @ 30kV 放大倍数Mag.:300×~ 500,000× 加速电压EHT:1.0 ~ 30Kv

主要功能

1. 场发射扫描电镜(SEM):各种材料形貌观察和分析,如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等; 2.X射线能谱分析仪(EDS):材料微区成分分析;MnKa峰的半高宽优于127eV;CKa峰的版高宽优于56Ev;FKa峰的半高宽优于64eV;元素Be4-U92; 3.3D背散射电子取向成像系统(EBSD):多晶材料的晶体取向和织构分析和3D重构;空间分辨率:优于50nm;探测器灵敏度: 加速电压在3KV时,束流小于50pA能采集到花样;解析速度最大可达600点/s;测试能谱和EBSD 同步采集和一体化功能,选取实际样品进行三维EDS & EBSD测试; 4.聚焦离子束系统(FIB):材料微纳结构的样品制备,包括:SEM在线观察下制备TEM样品、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。

预约机时规则
最少预约时长 1
预约时长梯度 0.5
须提前预约时间 0.0/
允许预约时间范围 0.0/
¥240元/样