中国冶金地质总局山东局测试中心-找我测
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GeoLas激光器

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X射线荧光光谱仪

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设备详细信息

JXA8230 电子探针显微分析仪

设备名称 JXA8230 电子探针显微分析仪
设备型号 JXA8230
设备品牌 日本电子(JEOL)
备注说明 仪器配置: 1、配备4道波谱仪(WDS),八块分光测试晶体(含两块分析轻元素晶体),元素测试范围:5B92U。 2、配备阴极发光(CL)系统。非抛光型的检测器(PCL)可用于矿物的筛选,如锆石阴极发光照相。 3、配备牛津科技INCAx-act350型能谱仪(EDS)。 仪器特点: 1、纳米级的电子细束,实现了真正的微区(微米级)、无损分析。 2、高性能扫描电镜(SEM)功能,保证了二次电子分辨率小于6nm。 3、WDS/EDS组合使用,丰富了分光谱仪种类,强大了分析功能。微区元素定量、定性分析及形貌观察,元素分布的线扫描和面扫描,分析准确度高。设定位置、参数后,可实现自动、无人盯防分析。 应用范围:地质学、岩石学、矿物学、材料学、冶金学、固体物理学、医学、文物珠宝鉴定等。